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  • Source: MRS Advances. Unidade: IF

    Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X

    Versão AceitaAcesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      ANNETT, Scott et al. Novel near field detector for three-dimensional X-ray diffraction microscopy. MRS Advances, v. 3, n. ju 2018, p. 2341-2346, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1557/adv.2018.487. Acesso em: 21 maio 2024.
    • APA

      Annett, S., Kycia, S., Dale, D., & Morelhao, S. L. (2018). Novel near field detector for three-dimensional X-ray diffraction microscopy. MRS Advances, 3( ju 2018), 2341-2346. doi:10.1557/adv.2018.487
    • NLM

      Annett S, Kycia S, Dale D, Morelhao SL. Novel near field detector for three-dimensional X-ray diffraction microscopy [Internet]. MRS Advances. 2018 ; 3( ju 2018): 2341-2346.[citado 2024 maio 21 ] Available from: https://doi.org/10.1557/adv.2018.487
    • Vancouver

      Annett S, Kycia S, Dale D, Morelhao SL. Novel near field detector for three-dimensional X-ray diffraction microscopy [Internet]. MRS Advances. 2018 ; 3( ju 2018): 2341-2346.[citado 2024 maio 21 ] Available from: https://doi.org/10.1557/adv.2018.487

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